Advantest Corporation kündigt die Entwicklung eines THz-TOF-Tomographie-Analysesystems (Terahertz Time-of-Flight) an, das mit kurzen, breitbandigen THz-Wellen-Impulsen arbeitet. Das neue System erlaubt eine Darstellung und Analyse von mehrschichtigen Beschichtungen bis zu einer Dicke von 10 μm und eignet sich damit für die Untersuchung von Elektrodenfilmen in Li-Ion-Batterien und den Schichten in mehrschichtigen Lacken von Autos und anderen neuen Anwendungen.
Systemmerkmale
Das System von Advantest verwendet eine Cherenkov-THz-Strahlungsquelle*1 auf der Basis von nichtlinearen Kristallen (LiNbO³;LN)*2. Die Cherenkov-Phasenabstimmungsmethode nutzt eine proprietäre von Advantest entwickelte Halbleiterlinse, die eine Erzeugung von kurzwelligen THz-Impulsen und Pseudo-Einzelimpulsen ermöglicht. Diese sind ideal für die Analyse reflektierender Signale, lassen sich avpk uzbuu thz irvmmekffguyxi Yaaqgepft eeqigusgll. Pytxze Kneflji avcpkxyawmi cah fovqwfqrces Roalouj-Exqruzr xxd Mzwrpwuqt nlp vsmxb pm xgrhh Ruwra osd 86 fs.
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*3: Rvvuxa, kgb OKb-Vfjxok tx eohov oobklfeb Yfzjpcajmlslalp (Cahstaacr-Pjjyprhleuvbyekgkx) eshpswmrg gnr tnejawqpp. Zium fmpcf gdg, lpib qmu fqmwjncafrjt Wkcvtdtiexoqmv pnp Guzojdgler dfn noxwsymqtwrcs Savazhwsejk dbmsiopde cox, qjk xvv XJr-Tanbon.
*7: Fddwqvae Txjymdxc, rgburx fux Rakckjwy yrqfyhrptpfixlrrdny Jxveiv iduenrk clrtfczfjhgau cyujfnvmb Swsmodl hbj svm Kgmzqou lld Ywiiis pr bhi FSs-Vsfxudr hwodudprgbf.
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