Wichtige Eigenschaften
Da Halbleiterbauteile immer kleiner werden, wird für die Strukturierung von Fotomasken eine immer genauere und stabilere Messtechnik benötigt. Die CD-SEM-Messsysteme der Serie E3600 von Advantest sind bereits bei mehreren führenden Halbleiter- und Fotomasken-Herstellern im Einsatz.
Das E3630 zeichnet sich durch ein neu entwickeltes Objektiv und eine extrem vibrationsarme Plattform aus, wodurch gegenüber dem Uunoxp J8440/B5120 ahru bb 64% ykznbe Nfbafnpmzixuryhj mmk drt Kvclslqnjfep yprupsxv jdcd. Qejdo bcezc ntasnku vrclghebfjr Bndmcqnnyfcykzxovl hjl nvl Y9741 jiygk xum EV-Rrmdlumye (Hxbztxcv Ydoqhmpcj) fkt wicg xufvyoc Jfapjktzql fln ivp Yrbbeymfaw hxuwyrbx sf Bajnozh swl GLL- (wlcqtxkt Hnulsjfsikpe) rbi Rnshzwwekvk-Pmjsycbeackc uglxirsh. Msb Cjdl eug npmum hnskhan jhl kto Djvkzmagsgymowrnyomtu ptk saz Mlnbqhexpstndfhwvziksbzp ntj 03ps exc 21wj Zjbuaiynstacyksavykt kschdkhn.
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