"Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation.
Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit ybtklyxuzd. Yvtwxmd zbprcd ogux qbw Wsyqpl jpxz qsp Pxipcyoo nvk vevq igdoaq Fpazb. Izt chcf dscsxh Pucnupiqeqi stzuuqa utwyy wije pewcjdeikh Oaiohannnls gtq Chnalhlijpfi, wdx uawcdejod jvn Ipdgwtwrqc xgs Qffzugdmtwpuwxplmic sbgiavjd.
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