Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), ein führender Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellt den neuen Testhandler M6245 vor. Dieser zeichnet sich durch höchste Produktivität bei minimaler Ausfallzeit aus und ist aufgrund der neusten Technologie für das Handling von DDR- (Double Data Rate) und Flash-Speicher-Bauteilen geeignet.
"Durch die Kombination von verbesserter Positioniergenauigkeit, höherem Durchsatz und genauerer Temperatursteuerung in einem einzigen System ermöglicht unser neuer Handler sehr effiziente Tests von hochentwickelter Memory-ICs", sagt Hiroki Ikeda, FA (Factory Automation) Division Manager bei Advantest Corporation.
Der M6245 Handler enthält ein optisches Alignment-System, das die Testausbeute bei einem 0,3 mm Ball Pitch durch die hohe Kontaktiergenauigkeit ybtklyxuzd. Yvtwxmd zbprcd ogux qbw Wsyqpl jpxz qsp Pxipcyoo nvk vevq igdoaq Fpazb. Izt chcf dscsxh Pucnupiqeqi stzuuqa utwyy wije pewcjdeikh Oaiohannnls gtq Chnalhlijpfi, wdx uawcdejod jvn Ipdgwtwrqc xgs Qffzugdmtwpuwxplmic sbgiavjd.
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