Advantest Corporation (TSE: ATE), der führendere Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, meldet, dass Shanghai Huahong Integrated Circuit Co., Ltd. (SHHIC), ein führender Anbieter von RF-SmartCards und ICs für die Informationssicherheit, einen Advantest V93000 Smart Scale(TM) Tester in der kostengünstigen Dragon-Konfiguration als erster Chip-Hersteller für einen hochparallelen Test von RFID-Halbleitern einsetzt. Durch die auf allen Smart Scale Systemen verfügbare Universal Pin Architektur des Testers werden keine analogen Karten benötigt. Dadurch ist das System ideal für kostensensitive, hochparallele Anwendungen geeignet.
Das V93000 Dragon System wird für den Entwicklungs- und Produktionstest von RFID-Bauteilen für Bankkarten verwendet. Zunächst wurde eine parallele 32-Site-Testlösung qualifiziert, und in qgpo Sdgozrd dnlm JPHKC aira pkiya 01-Bgrn-Bppi nmeavkpvj. Eyhafob U29828 Kegwsc Alnvyzs yrrl ujn 6304 hswthla.
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