Die Arbeit von Lausch stellt erstmalig eine Grundlage für eine systematische Untersuchung sogenannter rekombinations-aktiver Defekte in multikristallinen Silizium-Solarzellen dar. Bei Solarzellen spielt die Materialqualität eine entscheidende Rolle. Daher ist die Analyse von elektrisch aktiven Defekten, die während der Waferherstellung oder während des Solarzellenprozesses erzeugt werden, von zentraler Bedeutung. Ziel ist, den Wirkungsgrad von Solarzellen zu erhöhen. Die international besetzte Jury hob die dxat Xcqrpaen hzw cbjfdtourgoj Qteyuu kscfzd.
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