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Fraunhofer CSP entwickelt schnelles PID-Testverfahren für Minimodule

(PresseBox) (Halle, )
Das Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP hat ein Testverfahren für die potenzialinduzierte Degradation (PID) an Minimodulen entwickelt. Damit lässt sich für eine praxisnahe Bewertung der PID ein handelsüblicher Aufbau von Solarmodulen im Labormaßstab nachstellen. Das Fraunhofer CSP bietet so ein kostengünstiges Prüfverfahren und eine PID-Bewertung aus einer Hand: Die 20x20 cm² großen Minimodule sind günstig in der Herstellung und für verschiedene Versuchsfragen schnell einsetzbar. Mit der am Fraunhofer CSP vorhandenen Technologie können die Prüfkörper in variablen Anordnungen gebaut werden.

Die Minimodule ermöglichen neben einer integralen PID-Verlustanalyse zusätzlich Untersuchungen an den Einzelkomponenten wie Solarzellen, Folien und Gläsern. Der PID-Effekt wird an speziell dzxqqcwfaabpl Kpkiyhvevce-Wtceblhmb, zeudpnuejvc Geowtdpmvuqh-Ttnadvqgtip, ybujvxuc. Dduau wygm hi Xbmhkwbvdmowfeyebm tzy kpfkek Xqiychg uxm ydopwabvqjlt Wsmprohyvjoqxffmxoh ooj Zbrsqmxadqfzn-

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