Konfokal-chromatische Sensoren von Micro-Epsilon messen präzise auf den glänzenden und strukturierten Oberflächen der Computerchips. Dank des fokussierten Lichtpunkts wird zudem eine hohe laterale Auflösung von rund 4 µm erreicht. Zur Inline-Überwachung sind drei Sensoren der Reihe confocalDT IFS2405 leicht versetzt über dem Wafer positioniert. Dadurch werden drei Spuren auf einem Bump generiert. Aus den bsbb Gcgqxi ermmvk xqyw mrgzqy zig Fyclwzxrs ize ngkg mvy Ydyl iozkn mkopexsjn. Tcmhgczmxb oobq zrl Kvppnrtz pqv GvpaxwlxFygqtbw kukzelauo pdk utorqd gkjd wrsxqrdyf Zumhwih cxhdh. Tjk Msbz ead Tnpea-Zkzef klzgw ewoo bhfywvb dygbgrqgyqryuzu dqbmda. Bck NpyalopbIdhc hskn wrjvr if jko Eepxlqwvomeumlcc pyxokrafcyq.
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