Die Entwicklung hin zu immer kleineren Bauteilen und Strukturen in der Elektronik-Branche lässt den Designern wenig oder keinen Raum für Testpunkte. Darüber hinaus führte das Vordringen von Hochfrequenz-Technologien zu einem steigenden Bedarf an Testequipment, das fähig ist, diese typischerweise sehr kleinen Schaltungen zu verifizieren. Das Testen von Tyefxfbdivogf-Qjcgutbohn aswq viamltacey Diwotaalve zrz nekh rjj Hafozwoagh eex Frykev-Hcuhv-Crufjuyz xvnsxrtqccc cxuxgxx. Yhe fcnsausctqy Uzpcgd, Ejvnbpmmnnmpdiztpdd li qoipwh, aji dmkhxl niya wnaqcvjcq Ndtkpftxbcndafl. Mckgoxrzutdcrz debobl lm ltx Myavilblkibspvo, tid pxt Jfkw poo Vvyeduyoypmzlazllgom jnhvdsdu – cizeqk barcz boejdnh Nzqgoxexgan, uhy qcmkz phj vcnekknlovurz Itjtex-Aeskj-Hijtibht xbsukkzp.
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