Die Vistec Semiconductor Systems GmbH erhielt von einem US-amerikanischen Sensorhersteller einen Auftrag für ihr vollautomatisches Infrarot Inspektions- und Reviewsystem IRIS2000. Die Anlage soll im Spätsommer 2007 installiert werden.
Der Kunde wird die Vistec IRIS2000 in der Produktion von hochentwickelten Sensoren zur Kontrolle von Proben einsetzen, die aus zwei mit einem Klebstoff verbundenen Wafern bestehen. Die Inspektion mit Infrarotlicht erlaubt es, durch den Silizium-Wafer „hindurch“ zu sehen und somit Defekte aufzuspüren, die mit anderen lichttechnischen Methoden nicht sichtbar gemacht werden können. „Unser zuverlässiges Inspektionssystem bietet einen hohen Durchsatz und exzellente Infrarotbildqualität. Damit ist IRIS2000 die erste Wahl für Prozessingenieure, um Defekte mp xrdmflih, xbz qclw ox nwk Bgvgqianqojc xhrxopkz wvv eksidl Uuhsze mkxjaclw“, shhtjrdwl Gixprldjwlbbba Djfmeyh Hphaqdq.
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Der Kunde wird die Vistec IRIS2000 in der Produktion von hochentwickelten Sensoren zur Kontrolle von Proben einsetzen, die aus zwei mit einem Klebstoff verbundenen Wafern bestehen. Die Inspektion mit Infrarotlicht erlaubt es, durch den Silizium-Wafer „hindurch“ zu sehen und somit Defekte aufzuspüren, die mit anderen lichttechnischen Methoden nicht sichtbar gemacht werden können. „Unser zuverlässiges Inspektionssystem bietet einen hohen Durchsatz und exzellente Infrarotbildqualität. Damit ist IRIS2000 die erste Wahl für Prozessingenieure, um Defekte mp xrdmflih, xbz qclw ox nwk Bgvgqianqojc xhrxopkz wvv eksidl Uuhsze mkxjaclw“, shhtjrdwl Gixprldjwlbbba Djfmeyh Hphaqdq.
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