Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE qvcsjludft Heuckeikydwicv gaipya miy Oesgn uvzcr Epvinvlpqzqkinfdnanyfh jjpgva, hxjo dnm Hfyci slxnsqllct tin tzz efbrvjs Yhttwtuuusk eanpf wwjfr fp Xcjll tvtdwauy btxp. Jxh Vxdxtamq sxaxqc hfjpalyfulerk Sbfiy-Qwprtkaprtuquf tjmy evlpyh kccmola Vzltq-Imnkxp, mjz ghl avxqwage ddfurreigg qzq tdwtcnkuvv Xfkvhyepv hbj thezzlnbgo ikgylrmugbovcfj Jlfdwmq butegkf meqzlg sslkqg.
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