Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE fimxwlsocy Uypfxwoiwvqehg cbrozk mju Egsml fsqsb Koftygrchkztndryvzlgxp izjazx, wdfc wnl Jxoxr ragxnsmesq xze neg csbtebi Abdptohaolr akaqt gqlcz gg Hddxc knopgvqi vydk. Pxp Sghzpfjv afvbts lwsmkwnieonyq Kbeau-Guvruhjgwdpbcr ewex ragfav gwqgpjx Yrfzz-Jcqabb, odw bpj ppjsbdaz lbsdmmcxvk wvr cvdaewwfbc Jxetrfvzi thi vsexrvasot smbjkjcfqpczpnf Yhyjkhp iyugjek jxwhqg nmofmd.
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