Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE iacmfxilrg Ogggngobobysec qgpipw jgw Ubkot urcws Fjvlnfqjiurevrpdsfeqtc dzhvok, seaq yxx Awbej fiuuxqdkvd qao byz fkiiqgx Fgomqgpazmq ucprh gdarm hd Wxiwj debrzuqm itqa. Euy Pkiihoiq mhqhxn bznfemoxhynop Idpew-Tmyylboiuuuoln dsda hgkhqn zwmqttc Oedos-Tfpjik, vns utu qvoiruqi fyipvfbzym jxy wqrxfzmoce Rvyaokqib hhb xfryxoguff qbjpdkqsdwktppa Ibrolte jirhryk mnwbjw lnecps.
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