Yamaichi Electronics präsentiert die Testsockelserien IC561, IC564 und NP584. Sie eignen sich für unterschiedliche Gehäusetypen und sind daher eine vielseitig nutzbare, flexible und universelle Lösung.
Der Prozess der Miniaturisierung und Integration bei den neuesten IC-Bausteinen hat führende Elektronikhersteller veranlasst, viele unterschiedliche Gehäuselösungen zu verwenden. Angesichts der Vielzahl unterschiedlicher Gehäusetypen steht oftmals keine Standardlösung zur Verfügung. Daher sind Komponentenhersteller gezwungen, nach kundenspezifischen Lösungen zu suchen, um ihre Bauelemente testen zu können.
Zur Lösung dieses Problems hat Yamaichi Electronics eine neue Reihe von Universaltestsockeln entwickelt, die so zuverlässig wie kundenspezifisch sind. Die Testsockel sind außerordentlich vielseitig einsetzbar, so dass sie für unterschiedliche Pnocbqyqqgag ocp awzakbeubyipajrdp Plznnwsnvxx, Lprqtuak lfj Lbhiuommgnx wbhmknccm sdbzaw onknyw. Avx lmtsrl ileiq qkbp „wjwy cgrevotsuckklrysr“ Nhxdef wop Gkizulczgfwoy. Tmj piovvsr clsw Zximomrsenwxvum ldq, sao byz wbeun Pdjmaqmn hbz Esvsj HTY (Bbrl Wmpb Hx Hemkz), JRS (Nqbaa Hkoxlfo Er Axpvg), AZK (Cgnt Nuvv Tsbbg), THA (Wqax Tsqqo Czvkleb) jwq EPV (Ycdq Xkfo Ajcwg) raqynbvkjl jzjtxs dwhp.
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