Heute werden Testsysteme neben dem reinen Gut-/Schlecht-Test immer häufiger als Sensor für die Prozeßsicherung eingesetzt. Dies erfordert eine hohe Fehlerabdeckung, die nur durch eine Kombination von verschiedenen Testmethoden optimal erzielt wird. In-Circuit-Test, Funktionstest, Opens-Test, Boundary-Scan, Flash-Programmierung oder optische Prüfung sollen variabel kombiniert werden können. In-Line Konzepte zu erschwinglichen Preisen sowie parallele Testkonzepte für höchsten Durchsatz gehören ebenfalls in die Auswahl neuer Konzepte.
Gleichzeitig muss die Programmierung einfach anzuwenden sein und darf keine langen Erstellungszeiten mit sich bringen.
Eine weitere Produktivitätssteigerung ist durch die einfache Übernahme der CAD-Daten für Adapterbau, Test und Reparatur zu erreichen. Durchgängige Lösungen mit Darstellung von Layout und Stromlaufplan sowie intelligente Softwarekonzepte zur Prüfung von Layoutänderungen und deren Auswirkungen auf den Prüfadapter oder Prüfprogramm sparen Zeit und erhöhen die Qualität. Weiterhin muss die Möglichkeit bestehen Testergebnisse in ein Qualitätsdatenmanagementsystem zu integrieren. Durch die Auswertung der Daten werden Fehlerquellen schnell erkannt und der Prozeß kontinuierlich verbessert.
Die Digitaltest GmbH bietet für diese Bereiche umfassende Lösungen aus einer Hand, von "A" wie Anbindung an CAD über modulare Testsysteme und Flying Probern bis "Z" wie Zusammenführung der Qualitätsdaten. Seit Mai 2006 ist Digitaltest Vertriebspartner von OMRON und kann somit auch den Bereich AOI anbieten.
Im Herbst 2007 wird Digitaltest ein weiteres, interessantes Thema in der bewährten Seminarreihe anbieten: Die Firma Mimot, deutscher Hersteller innovativer Bestücktechnologien, wird über "Traceability und Interaktives Bestücken in der SMD Technik" referieren, weitere Einzelheiten zu Mimot unter www.mimot.
Im Seminar ' Integrierte Testlösungen' stellt Digitaltest diese Komplettlösungen für In-Circuit-Test, Funktionstest, preiswerte Adapterkonzepte, Flying Probe-Tester und AOI vor. Durch die Modularität der Hard- und Software ist ein Einstieg für ein umfassendes System bereits ab 20.000,-- Euro möglich!
Termine:
KW37-2007 Ort
10.09.2007 - Karlsruhe
11.09.2007 - München
12.09.2007 - Nürnberg
13.09.2007 - Stuttgart
14.09.2007 - Frankfurt/Main
KW38-2007 Ort
17.09.2007 - Köln
18.09.2007 - Hannover
19.09.2007 - Hamburg
20.09.2007 - Berlin
21.09.2007 - Leipzig
(genauer Veranstaltungsort geht zusammen mit der Anmeldebestätigung zu)
Zeitplan: Beginn 13.00 Uhr, Ende ca. 17.00 Uhr
Genauer Veranstaltungsort geht den Interessenten zusammen mit der Anmeldebestätigung zu . Nähere Einzelheiten zu den Hotels und Anmeldung bei Frau Wobbe unter funda.wobbe@digitaltest.de
Beginn der Veranstaltung jeweils um 14:00 Uhr, Ende wird gegen 17:00 Uhr sein.
Gleichzeitig muss die Programmierung einfach anzuwenden sein und darf keine langen Erstellungszeiten mit sich bringen.
Eine weitere Produktivitätssteigerung ist durch die einfache Übernahme der CAD-Daten für Adapterbau, Test und Reparatur zu erreichen. Durchgängige Lösungen mit Darstellung von Layout und Stromlaufplan sowie intelligente Softwarekonzepte zur Prüfung von Layoutänderungen und deren Auswirkungen auf den Prüfadapter oder Prüfprogramm sparen Zeit und erhöhen die Qualität. Weiterhin muss die Möglichkeit bestehen Testergebnisse in ein Qualitätsdatenmanagementsystem zu integrieren. Durch die Auswertung der Daten werden Fehlerquellen schnell erkannt und der Prozeß kontinuierlich verbessert.
Die Digitaltest GmbH bietet für diese Bereiche umfassende Lösungen aus einer Hand, von "A" wie Anbindung an CAD über modulare Testsysteme und Flying Probern bis "Z" wie Zusammenführung der Qualitätsdaten. Seit Mai 2006 ist Digitaltest Vertriebspartner von OMRON und kann somit auch den Bereich AOI anbieten.
Im Herbst 2007 wird Digitaltest ein weiteres, interessantes Thema in der bewährten Seminarreihe anbieten: Die Firma Mimot, deutscher Hersteller innovativer Bestücktechnologien, wird über "Traceability und Interaktives Bestücken in der SMD Technik" referieren, weitere Einzelheiten zu Mimot unter www.mimot.
Im Seminar ' Integrierte Testlösungen' stellt Digitaltest diese Komplettlösungen für In-Circuit-Test, Funktionstest, preiswerte Adapterkonzepte, Flying Probe-Tester und AOI vor. Durch die Modularität der Hard- und Software ist ein Einstieg für ein umfassendes System bereits ab 20.000,-- Euro möglich!
Termine:
KW37-2007 Ort
10.09.2007 - Karlsruhe
11.09.2007 - München
12.09.2007 - Nürnberg
13.09.2007 - Stuttgart
14.09.2007 - Frankfurt/Main
KW38-2007 Ort
17.09.2007 - Köln
18.09.2007 - Hannover
19.09.2007 - Hamburg
20.09.2007 - Berlin
21.09.2007 - Leipzig
(genauer Veranstaltungsort geht zusammen mit der Anmeldebestätigung zu)
Zeitplan: Beginn 13.00 Uhr, Ende ca. 17.00 Uhr
Genauer Veranstaltungsort geht den Interessenten zusammen mit der Anmeldebestätigung zu . Nähere Einzelheiten zu den Hotels und Anmeldung bei Frau Wobbe unter funda.wobbe@digitaltest.de
Beginn der Veranstaltung jeweils um 14:00 Uhr, Ende wird gegen 17:00 Uhr sein.
