Die genaue Kenntnis des spektralen Reflexionsgrades von Oberflächen stellt die entscheidende Voraussetzung für die verlässliche Bewertung von Körperfarben dar. Darüber hinaus können Spektraldaten wichtige Informationen für die chemische Analytik liefern.
Bisher verlangten derartige Anwendungen nach einem aufwendigen, oftmals kompliziert zu bedienenden Equipment. Mit dem Messsystem STE-RFX1 ist es erstmals möglich, den spektralen Reflexionsgrad nahezu beliebiger optischer Oberflächen in kürzester Zeit und auf einfachste Weise zu bestimmen. Diese wirtschaftlich sehr attraktive Turnkey-Lösung besticht durch Kompaktheit und Benutzerfreundlichkeit. Vergleichbare Systeme auf Basis von Ulbrichtkugeln und Beleuchtungssystemen nach dem Köhler-Prinzip erreichen in bestimmten Fällen eine höhere Absolutgenauigkeit, kosten aber ein Vielfaches des hier vorgestellten Messsystems.
Mit dem preiswerten Messsystem STE-RFX1 von Stellar Net Inc. wird das Angebot von Laser 2000 zum Messen der optischen Eigenschaften von Oberflächen erweitert.
Die Probe wird mittig auf der Messkammer positioniert und aus dem Probenraum heraus senkrecht (Einfallswinkel 0°) beleuchtet. Eine Kollimationsoptik mit SMA-Anschluss sammelt das unter 45° reflektierte Licht der Probe und speist es in ein Lichtleiterkabel, welches zum Spektrometer führt. Die Öffnung für die Probe beträgt 30 mm. Eine integrierte 20W Halogenlampe mit stabilisiertem Netzteil sorgt für eine gleichmäßige Beleuchtung der Probe im Wellenlängenbereich 350-1700 nm. Weiterhin kann die Kalibrierung des Systems mit einer Vielzahl NIST-zertifizierter Reflexionsstandards durchgeführt werden.
Bisher verlangten derartige Anwendungen nach einem aufwendigen, oftmals kompliziert zu bedienenden Equipment. Mit dem Messsystem STE-RFX1 ist es erstmals möglich, den spektralen Reflexionsgrad nahezu beliebiger optischer Oberflächen in kürzester Zeit und auf einfachste Weise zu bestimmen. Diese wirtschaftlich sehr attraktive Turnkey-Lösung besticht durch Kompaktheit und Benutzerfreundlichkeit. Vergleichbare Systeme auf Basis von Ulbrichtkugeln und Beleuchtungssystemen nach dem Köhler-Prinzip erreichen in bestimmten Fällen eine höhere Absolutgenauigkeit, kosten aber ein Vielfaches des hier vorgestellten Messsystems.
Mit dem preiswerten Messsystem STE-RFX1 von Stellar Net Inc. wird das Angebot von Laser 2000 zum Messen der optischen Eigenschaften von Oberflächen erweitert.
Die Probe wird mittig auf der Messkammer positioniert und aus dem Probenraum heraus senkrecht (Einfallswinkel 0°) beleuchtet. Eine Kollimationsoptik mit SMA-Anschluss sammelt das unter 45° reflektierte Licht der Probe und speist es in ein Lichtleiterkabel, welches zum Spektrometer führt. Die Öffnung für die Probe beträgt 30 mm. Eine integrierte 20W Halogenlampe mit stabilisiertem Netzteil sorgt für eine gleichmäßige Beleuchtung der Probe im Wellenlängenbereich 350-1700 nm. Weiterhin kann die Kalibrierung des Systems mit einer Vielzahl NIST-zertifizierter Reflexionsstandards durchgeführt werden.
