Das „Reduced Speckle System“ unterdrückt die Speckles, welche durch kohärentes Licht (Laser) hervorgerufen werden, weitgehend. In dem „Reduced Speckle System“ wird eine breitbandige Quelle eingesetzt. Zwei unterschiedliche Wellenlängen mit typ. 680nm und 830nm stehen zur Verfügung. Die Ausgangsleistung für beide Wellenlängen beträgt 3mW.
Der Vergleich mit einem Laser der gleichen Leistungsklasse zeigt ein um ca. 300% besseres Messergebnis. Das industrietaugliche System wird thermoelektrisch gekühlt um eine hohe Strahlstabilität zu erzielen welche speziell in der Halbleitertechnik auf Grund der Größenordnungen gegeben sein muss. Zudem garantiert die thermoelektrische Kühlung eine exzellente Wellenlängenstabilität und Ausgangsleistung. Die aktive Kühlung verlängert auch die Lebenszeit der Diode. Projektionsoptiken zum Abbilden von Linien, Punktmatrixen, Kreuzen etc. stehen zur einfachen Montage mittels Schwalbenschwanzaufnahme zur Verfügung.
Die Hauptanwendungsgebiete liegen in der hochpräzisen Bildverarbeitung zum Beispiel für die Größenvermessung und Anwesenheitskontrolle von kleinen Bauteilen in der Halbleiterindustrie oder in der Automobilindustrie zur Türspalt- und Karosserievermessung.