MatriX Technologies bietet nun zusätzlich zu seinen bewährten AXI Röntgensystemen ein leistungsfähiges AOI System an, das sich durch seine kompakte und modulare Ausführung ideal als komplementäres Prüfsystem zur Highspeed AXI Plattform des weltweit tätigen Herstellers eignet. Das Vision-System, eine Neuentwicklung von CyberOptics, basiert auf dem vielfach ausgezeichneten CyberOptics Strobe Inspection Module - kurz SIM. MatriX vertreibt das System als OEM Produkt unter dem Namen MV-200C. Der AXI-Spezialist zeigt erstmals auf der Productronica 2011 (Halle A2, Stand 159) die Kombination AXI mit AOI.
Die MatriX AXI Systeme finden insbesondere in der schnellen, anspruchsvollen Elektronikfertigung Einsatz, wie z.B. in der Automobilindustrie. Wie die Röntgensysteme erfüllt auch das MV-200C die hohen Anforderungen einer zuverlässigen Bauteil- und Lötstellenkontrolle in der Baugruppenfertigung. Durch die verwendete SIM Technologie erreicht das Highspeed Vision-System eine Inspektionsgeschwindigkeit von bis zu 200 cm2/s und ist somit eines der schnellsten Vision-Scanning Systeme auf dem Markt. Das modulare und kompakte Design ermöglicht eine einfache Integration in jede Fertigungslinie.
Die SIM Technologie verwendet weißes Blitzlicht zur Aufnahme optischer Bilder und liefert exzellente Bildqualität und Auflösung für Prüfabdeckungen bis zu 01005 Bauteilrastern. Das Prüfobjekt wird während der Aufnahme nicht angehalten. So kann die Scan-Geschwindigkeit problemlos an die Taktzeit des jeweiligen Produktionsprozesses angepasst werden. Das MV-200C kann auf ein Standard-Bandmodul montiert und platzsparend in die Fertigungslinie zusammen mit dem AXI System eingebunden werden. Die Schnittstelle zur modularen MIPS-Softwareplattform wird dabei bereits über das gemeinsame CAD-Programm hergestellt. Über ein Testcoverage-Display kann die Auswahl für AOI und AXI für eine 100% Prüfabdeckung optimiert werden. Die AOI/AXI Prüfergebnisse werden nach dem Inspektionslauf über MIPS_Verify in einem gemeinsamen Verifikationsprozess abgearbeitet und für die Echtzeit-Prozesskontrolle zur Verfügung gestellt.
Für ein optimales Prüfkonzept mit maximalem Durchsatz können alle verdeckten und kritischen Lötstellen mit Röntgen geprüft werden. Für "einfache" Lötungen, Bauteilanwesenheit und speziell für den Polaritätstests für ICs, Elektrolyt-Kondensatoren und Dioden ist das AOI Modul MV-200C die ideale Ergänzung und kann so in Kombination mit dem AXI eine 100% Testabdeckung auch bei höchsten Dursatzanforderungen sicherstellen.
Die MatriX AXI Systeme finden insbesondere in der schnellen, anspruchsvollen Elektronikfertigung Einsatz, wie z.B. in der Automobilindustrie. Wie die Röntgensysteme erfüllt auch das MV-200C die hohen Anforderungen einer zuverlässigen Bauteil- und Lötstellenkontrolle in der Baugruppenfertigung. Durch die verwendete SIM Technologie erreicht das Highspeed Vision-System eine Inspektionsgeschwindigkeit von bis zu 200 cm2/s und ist somit eines der schnellsten Vision-Scanning Systeme auf dem Markt. Das modulare und kompakte Design ermöglicht eine einfache Integration in jede Fertigungslinie.
Die SIM Technologie verwendet weißes Blitzlicht zur Aufnahme optischer Bilder und liefert exzellente Bildqualität und Auflösung für Prüfabdeckungen bis zu 01005 Bauteilrastern. Das Prüfobjekt wird während der Aufnahme nicht angehalten. So kann die Scan-Geschwindigkeit problemlos an die Taktzeit des jeweiligen Produktionsprozesses angepasst werden. Das MV-200C kann auf ein Standard-Bandmodul montiert und platzsparend in die Fertigungslinie zusammen mit dem AXI System eingebunden werden. Die Schnittstelle zur modularen MIPS-Softwareplattform wird dabei bereits über das gemeinsame CAD-Programm hergestellt. Über ein Testcoverage-Display kann die Auswahl für AOI und AXI für eine 100% Prüfabdeckung optimiert werden. Die AOI/AXI Prüfergebnisse werden nach dem Inspektionslauf über MIPS_Verify in einem gemeinsamen Verifikationsprozess abgearbeitet und für die Echtzeit-Prozesskontrolle zur Verfügung gestellt.
Für ein optimales Prüfkonzept mit maximalem Durchsatz können alle verdeckten und kritischen Lötstellen mit Röntgen geprüft werden. Für "einfache" Lötungen, Bauteilanwesenheit und speziell für den Polaritätstests für ICs, Elektrolyt-Kondensatoren und Dioden ist das AOI Modul MV-200C die ideale Ergänzung und kann so in Kombination mit dem AXI eine 100% Testabdeckung auch bei höchsten Dursatzanforderungen sicherstellen.
