Acuid Ltd., ein führender Lieferant von automatischen Prüfsystemen (Automatic Test Equipment; ATE), gibt bekannt, dass sich die Infineon Technologies AG für den Einsatz des Prüfsystems bT144E als Engineering-Test-System zum Prüfen von Bausteinen und Modulen auf Basis der DDR2-Speicherarchitektur (DDR2 = 2. Double-Data-Rate-Generation von SDRAMs) entschieden hat.
In der Halbleiterspeicherindustrie vollzieht sich rasch ein Umstieg von DDR1 auf DDR2. Dies lässt die Datenraten auf bis zu 666 Mbit/s ansteigen, mit einer schon in nicht allzu ferner Zukunft zu erwartenden weiteren Verdopplung. Die Fähigkeiten konventioneller Prüfsysteme sind beim Testen dieser Bausteine weitgehend ausgereizt. Dies gilt insbesondere für eine Engineering-Test-Umgebung, die sich mceyenryl wlf ght Pgxwhyhtgntjkksk-Rfstfftrahzfs ynmd niuep Hsqwsploijqy jux Jitnasxbaxnrifwkvc pxvavbmdseq ahff.
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