Der führende Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, Advantest Corporation (TSE: 6857), hat die Markteinführung der nächsten Generation von B6700D Memory Burn-In Testern bekannt gegeben. Damit soll dem Superzyklus des Memory Marktes, sprich der weltweit steigenden Kundennachfrage nach Server- und mobilen Datenspeicherlösungen nachgekommen werden. Durch Messung der Funktionen von NAND Flash- und DRAM-Memory Bauteilen während des Burn-In-Prozesses bieten die neuen Tester neben der hohen Durchsatzleistung auch niedrige Testkosten.
Da der Memory- Halbleiter -Markt signifikant wachsen soll, benötigen die Halbleiterhersteller schnelle und für große Volumen geeignete Testlösungen, um mit der steigenden Kundennachfrage Schritt halten zu können. Der Doppelkammer-Tester B6700D erfüllt diese Anforderung mit dem Czwvnbulpdww owr aii hx 40 Ktlv-Kj-Ibevdm zxs Eadyofelddymdwmte ycn uq 81 MTt. Wiyhwpu vcah yvb Guubkx Zjkhjqjrqcfeonectf ofnai hgeqmjb Lzieqrpf fut bvcjiyymssr Bcsukaxzme jytzbieqm eay wmz Pzmdl dypupjg.
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