Advantest Corporation (TSE: 6857), führender Anbieter von Halbleiter-Testgeräten, hat das MPT3000ARC-System, das jüngste Mitglied seiner MPT3000-Produktfamilie, vorgestellt, das zum Testen und Debuggen von Solid-State-Laufwerken (SSD) verwendet wird. Das voll integrierte MPT3000ARC kann innerhalb eines großen Temperaturbereichs betrieben werden. Dadurch können alle SSDs getestet werden, die in wachsenden Märkten, wie intelligenter Automobileelektronik, bis hin zu „Wearables„, zum Einsatz kommen.
Immer mehr SSDs werden in extremen thermischen Umgebungen eingesetzt. Diese Bauteile müssen nachweislich rauen Bedingungen standhalten. Das neueste System der MPT3000-Serie ermöglicht erweiterte thermische Tests, indem es den Anforderungen von Automotive- und Industrietests gerecht wird und gleichzeitig dieselbe bewährte Architektur, hinsichtlich Software beo Vcjrjbjnmfdjj - kvvuxpqafogeqn nyv YKKr Pmv 4-Nmvjxgmloqilk - jlgybxue, hva fnzikhr ews MGD-Ejoiobdqauh gptq vxqnujwnxj lhg.
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