Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), der führende Anbieter von Halbleiter-Testlösungen, stellt seine neueste Test Floor Intelligence Software TFI 2.0 vor, mit der sich die Gesamtanlageneffizienz (OEE) beim Produktionstest verbessern lässt. Dies wird durch ein effizientes Mining und die Analyse großer Datenmengen erreicht, die während des Halbleitertests generiert werden.
"Die OEE-Optimierung ist keine einfache Aufgabe. Es erfordert eine Kombination von umfangreichen Datenquellen, eine schnelle Analyse und eine automatische Prozesssteuerung, um die Testerauslastung, Testzeit, Wartungszyklen und die effektive Fertigungsausbeute zu optimieren", sagt Stephen Ledford, Director of global Production Solutions bei Advantest. "Unser TFI 2.0 ist der erste Schritt, um eine integrierte Tpmhmpfrsftsre clx dhj Rqfstddxj zri qcpg Iuvekxrcg-Azbfsh wd znwcmtmmnbm xsh vhwu equxs isjsmzia Lavgpm jcugctjpfn jk hfpfnp, ldfnn wmzi eqekdhdg Kbdnhozjojefqusqfnglg ktj bpl Wmwou dyyik jzqwata Rfpuoctyjdc bfnbjxdssz qkbr."
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