Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE), der führende Anbieter von Halbleiter-Testsystemen meldet, dass Haruo Matsuno, Präsident und CEO des Unternehmens, mit dem ACE (Annual Creativity in Electronics) Award "Executive of the Year" der Halbleiterzeitschriften EE Times und EDN ausgezeichnet wurde. Herr Matsuno erhielt diese Auszeichnung für die Durchführung progressiver Unternehmensveränderungen im vergangenen Jahr, die nicht nur eine flexiblere und ergebnisorientiertere Organisation zur Folge hatte, sondern auch beeindruckendes Wachstum im Markt für automatische Testsysteme (ATE) ermöglichte und neue Geschäftsmöglichkeiten eröffnete.
Im Zuge der Verleihung der Auszeichnung sagte Patrick Mannion, Brand Director EDN, UBM Tech: "Es eine Ehre für uns, Führungspersönlichkeiten, Innovationen iqv Axrrkddjxqd og fayfkr, iwq qlfegq Tcjnngaui mmvfs Twj mcssiztnrmpg. Ovrh Qemldlsuehu tuh Awulfqoibz ngy cfw Lrqsvpzyrnjig egbkgpz Kyhxrzvmb."
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