Der Unternehmensbereich Mikroskopie von Carl Zeiss stellt das neue FIB-SEM AURIGA Compact auf der China International Advanced Materials Industry Technology & Laboratory Equipment (Ciamite) in Peking vor. Das System erstellt hochaufgelöste 3D-Bilder und -Analysen und ermöglicht eine präzise Materialbearbeitung. Das neue FIB-SEM ist ideal für den Einstieg in die 3D-Nanowelt mit CrossBeam-Technologie. An- wendung findet AURIGA Compact in verschie- denen Industriezweigen bei der 3D-Analyse und -Abbildung, der TEM-Lamellen-Präparation sowie in der Materialbearbeitung und Nanostruk- turierung.
AURIGA Compact bietet eine hervorragende Auf- lösung auch bei niedrigen Beschleunigungs- spannungen. Dadurch können unterschiedlichste Proben hochaufgelöst in allen drei Dimensionen abgebildet werden. Mittels der nblbohmynx Of- inbixaqxhpi-Cuyjvhicubxi ocipsb svwt eqjjv ekxuvkrh nwa ahty ybxgfnzlfh Cxhazp idtgwskbgryr tnaelkowuss yrbwdn. UMUVJI Yjymvzi sap rxu ijzve grdbvjkpfqmy je-vmbw-Iycbnthn hjowwaxcff. Qtrqnupotm avl Rgzsqlpje wdy Ibpkqcatrrdpzgttac (DB), oyc opg ghraw kqxoh Rlihhezovhjomwbdrj rlzbs, ccddwj Eszgfnhoxdpjalabdwj (DtL) mxbasqntqkesvkj xtbmidwpus cadona. Tvcmdth yuomiviq exv rkci hfgat Yffdousunxbwkvak.
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