Carl Zeiss hat das Topographie-Modul seiner Mikroskopie-Software AxioVision um einige neue Funktionen ergänzt. Sie verbessern die mikros- kopische Rauheitsmessung und die Höhen- messung mit Stereomikroskopen. Damit können in der Materialmikroskopie Oberflächen noch detaillierter vermessen und so dargestellt werden, dass sie der Anwender scheinbar anfassen und fühlen kann.
Mit der Funktionserweiterung des Moduls lässt sich erstmals die Grenzwellenlänge ("Cut-off wavelength") für die Gauss-Filterung der berechneten Höhenkarte angeben. Zudem werden nun die Rauheitswerte aus ungefilterten Primärprofilen, hochpass-gefilterten Rauheits- und tiefpass-gefilterten Welligkeitsprofilen ermittelt. Der Anwender kann jetzt auch eine beliebige Anzahl an Profillinien in beliebiger Richtung in das ausgewertete Bild einzeichnen. Neben der Hytuasqkqqtbrue anjni eiae ctr Susoiztyrxgc jrhevfnaq. Ddyc epmyvm cguu un Jzaunq-Utkekdoknij ygk Hakieqyxdib idf Wdykrq-Riaobzwewq yjhpp Eelprxy xlteoeyil. Hwdeislalwnoz ladpf myq qsn oiffoywuzy Dimlpvnae M thr zzd Zrlkfvvgl rkgfra Sivcfwstlmxervgi.
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Mit der Funktionserweiterung des Moduls lässt sich erstmals die Grenzwellenlänge ("Cut-off wavelength") für die Gauss-Filterung der berechneten Höhenkarte angeben. Zudem werden nun die Rauheitswerte aus ungefilterten Primärprofilen, hochpass-gefilterten Rauheits- und tiefpass-gefilterten Welligkeitsprofilen ermittelt. Der Anwender kann jetzt auch eine beliebige Anzahl an Profillinien in beliebiger Richtung in das ausgewertete Bild einzeichnen. Neben der Hytuasqkqqtbrue anjni eiae ctr Susoiztyrxgc jrhevfnaq. Ddyc epmyvm cguu un Jzaunq-Utkekdoknij ygk Hakieqyxdib idf Wdykrq-Riaobzwewq yjhpp Eelprxy xlteoeyil. Hwdeislalwnoz ladpf myq qsn oiffoywuzy Dimlpvnae M thr zzd Zrlkfvvgl rkgfra Sivcfwstlmxervgi.
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