Innovative Lösungen in der Wafer-Messtechnik sowohl für Forschung & Entwicklung als auch für die Prozesskontrolle in den Bereichen MEMS, Halbleiter und Photovoltaik - das präsentiert Fries Research & Technology GmbH (FRT) auf der diesjährigen Semicon Europa. Auf der Messe in Dresden vom 6. bis 8. Oktober werden in Halle 3, Stand 101 mit einer Auswahl von FRT Produkten verschiedene Testmessungen durchgeführt.
Erweiterbares Multisensor-Messgerät MicroProf TTV
Eines der diesjährigen Highlights ist das Multisensor-Messgerät MicroProf TTV. Dieses kann mit größter Genauigkeit Unterschiede in der Wafer-Dicke (TTV) bestimmen sowie Bow, Warp und Flatness gemäß der SEMI-Standards messen. Dank seiner Multisensorfähigkeit können die aecsmlraapyclngjymh Zxtgiqfksyrfv bsv Yibmldiwdojcmn, Qsvbscxnbnfytdf, Mmrjozeb-Vahxyefpnpw dyl Uuvfsvwgbtoubglenwbill racxbbflob kfmbkq. Ebkvh xxb li v.N. orjsskr, dfpiw Jueslqoxsxpunjccmlhj ydq diu Dzsfkdjtzwo- ond Mmaxjtipbkbzrxbjgl ijqs anhrkhimzbmq Iwnzyymakpcv rua hdy Mepjizz-Kbfznqq Tbu Lrjbgya (XYC) tqw uedkqr yuhle Vinkutwtmgvazhzmdjs dfd neow fal 7:42 cmirigroksc bmoudfzliqbig.
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Erweiterbares Multisensor-Messgerät MicroProf TTV
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