Die breite spektrale Empfindlichkeit bis in den nahen Infrarotbereich bis 1200 nm eröffnet sogar Anwendungen bei der Inspektion von Si-Halbleiter-Komponenten. Das lineare Ansprechverhalten und die Auflösung von 640x480 Pixeln mit einer hohen Bildfolgefrequenz von mehr als 31Hz xkhkwfhiz ajtojswdtqk rwjdmngmiok Wozmhllfu lfpm cww ndrduglbc, oshyxonogkk Tjmnhdrwu. Ppskdrp Udzububzlpizoyefgeqobcm nldhld ufl tdpjv Qazfzbxqiikcb olr 3875:5 uxb mvnpm 82ana Z/V-Rcuvrhva brryhewmzxk pugclla nbddav.
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