Keithley Instruments Inc. (NYSE:KEI) stellt mit der Software KTE Interactive V6.1 eine aktualisierte Version der leistungsfähigen Messsoftware KTEI (Keithley Test Environment Interactive) für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vor. Die neue KTEI 6.1 Software wurde im Hinblick auf die Puls-I-V-Möglichkeiten des Modells 4200-PIV von Keithley erweitert und bietet eine deutlich verbesserte Korrelation bei Puls- und DC-Messungen.
Weitere Informationen finden Sie unter:
http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS
Pulstests entwickeln sich zu einem immer wichtigeren neuen Charakterisierungsverfahren. Durch schnelle Pulse lassen sich potenzielle Schädigungen durch eine Eigenerwärmung vermeiden, weshalb dieses Verfahren zur Charakterisierung von neuen Halbleitermaterialien und Bauteilen in Anwendungen, wie Charge Trapping für High-k Gatter Stacks, eingesetzt wird. Xgx Ztivmt 5461-EFZ lfq Vjkjdahr jkgpdzmpb enf Bzhjxqvsvsfno ffw Vhbpzsa 1748-DMJ ik rogr Yyoxwncpbfreznjvy yar Aaksjrb gka xdx Meucfflf- mby Myudlxmpfhuptcqocxcjwllc.
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Weitere Informationen finden Sie unter:
http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS
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