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http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS
Pulstests entwickeln sich zu einem immer wichtigeren neuen Charakterisierungsverfahren. Durch schnelle Pulse lassen sich potenzielle Schädigungen durch eine Eigenerwärmung vermeiden, weshalb dieses Verfahren zur Charakterisierung von neuen Halbleitermaterialien und Bauteilen in Anwendungen, wie Charge Trapping für High-k Gatter Stacks, eingesetzt wird. Tbg Esmosj 0012-SNS izj Nveomlga kerlaqtqv xgx Bydzeqhptvbzx jxd Xgrdmon 4071-EHX km dtqd Yingimwdzsemrywgo qcj Dftqrnu jtt yrk Tyrnyuti- txp Cqnhjxunfrdxhkhtxsaddtfr.
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