Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) stellt mit "Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing" ein Handbuch zum Thema parametrischer Test von Halbleitern vor.
Das 60-seitige Handbuch bietet eine Übersicht über die neuste Testverfahren, wie parallele parametrische Tests, eine Strategie für parametrische Tests auf Wafer-Ebene mit einer gleichzeitigen Durchführung von mehreren Tests auf mehreren Scribe-Line-Teststrukturen und unterstützt Halbleiter-Fabs dabei einen maximalen Testdurchsatz und niedrigste Testkosten zu erreichen. Das Handbuch ist kostenlos erhältlich unter:
www.keithley.com/pr/066.
Das Handbuch umfasst folgende Themen:
- Grundlagen paralleler parametrischer Tests
- Implementierung paralleler Tests
- Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden
Hardware-Lösungen
- Entwicklung von Teststrukturen für parallele Tests
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Das 60-seitige Handbuch bietet eine Übersicht über die neuste Testverfahren, wie parallele parametrische Tests, eine Strategie für parametrische Tests auf Wafer-Ebene mit einer gleichzeitigen Durchführung von mehreren Tests auf mehreren Scribe-Line-Teststrukturen und unterstützt Halbleiter-Fabs dabei einen maximalen Testdurchsatz und niedrigste Testkosten zu erreichen. Das Handbuch ist kostenlos erhältlich unter:
www.keithley.com/pr/066.
Das Handbuch umfasst folgende Themen:
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- Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden
Hardware-Lösungen
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