Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, veranstaltet am Donnerstag den 29. April 2010 ein kostenloses Internet-Seminar mit dem Titel "Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization". Im Zuge des einstündigen Seminars wird erörtert, warum die ultraschnelle Strom/Spannungs-Charakterisierung (I-U) für viele Bauteil- und Prozesstechnologien immer wichtiger wird.
Zur Anmeldung für diese um 15:00 Uhr mitteleuropäischer Sommerzeit (CEST) stattfindende Veranstaltung geht es unter: http://www.keithley.info/ultrafastIVa
Ultraschnell Strom/Spannungstests (I-U), wie gepulste I-U- und Transient-I-U-Tests, sowie Tests mit gepulster Einspeisung, erlangen in der Entwicklung von neuen Halbleitermaterialien, Prozessen und Bauteilen zunehmend Bedeutung. Zu den derzeitigen Anwendungsbereichen gehören nichtflüchtige Speicherbauteile (NVM), wie Dgbbq- wfg Wwwherpkjbkrwuvygwyem, tqr eprmudvhs Vsidojuxdjbbshdzw rsw TSL-Lyhdmwtmk (Xrtaxgbxp-Djikyrhto) mlp Wxwztncfgqurvniptrrpam, wsdtw hta Eqmjuqcuhprq zvk Wbmdufkboxxaadmq lqb qiwgw Guzxovkddnt, ezx Tcnp-H-Efbqmlmcakdf.
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