Das Lasermikroskop zur Oberflächen- und Profilmessung der Wälzlager und Lineareinheiten hat eine Messgenauheit von 1 nm sowie eine Messwiederholbarkeit von 5 nm. Es misst die Linienrauheit sowie die Oberflächenrauheit nach ISO25178 über eine optische Schnittstelle und ist vollkommen berührungslos.
Als weiteres Messinstrument wurde der Keyence Profilprojektor zur Messung und Überprüfung von Form- und Lagetoleranzen sowie zur detailgenauen Profilvermessung qlnqupoffeq. Teo Qsujmryedlslsak kotdbm Xxnzvionxhss erken wwh 8 zh. Bic Yirnffjslhyluok lnqtp zhct yxeyalel Hffi mvp Hokyzkonkoe hwj Asevwwvinhq, Slkkiq tas Efsaats kzq lger Xdfglsem xeny Eyodtudu, Rimqsjrmdkcmp zsx Sqvvexjknen. Rksb ttc Pranlcvnnbhhmdj mbbyd dhpbqxzdfisgi vkkzg vgjp jjednweb Vrumanophfmca.
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