Mirtec, weltweit führender Hersteller von AOI Systemen, wird seine 2D/3D In-Line AOI Serie, ausgestattet mit der OMNI-VISION® 3D Inspektions Technologie auf der SMT/Hybrid/Packaging vom 16. bis 18. April 2013 auf Stand 7-504 im Messezentrum in Nürnberg präsentieren.
Dieses AOI System hat sowohl in 2011 als auch in 2012 den Global Technology Award gewonnen.
Mit der einzigartigen Kombination von 2D-Inspektion und 3D-Messung mit nur einem Prüfkopf erreicht dieses System höchste Produktivität und Prüffähigkeit, und es werden Pseudofehler vermieden.
Während mit der 2D-Inspektion eine höhere Inspektionsgeschwindigkeit erreicht wird und Schriften und Polaritäten erkannt werden, liefert die 3D-Messung exakte Daten zu Höhe und Yxeduyw yll Bvqfutzod.
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Dieses AOI System hat sowohl in 2011 als auch in 2012 den Global Technology Award gewonnen.
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