Rohde & Schwarz erweitert den High-End-Netzwerkanalysator R&S ZVA um die Software-Option Gepulste Messungen. Die R&S ZVA-K7 ermöglicht Pulsprofilmessungen an Halbleiterkomponenten und Antennen-/Radarsystemen. Absolute Pegel, komplexe S-Parameter und daraus abgeleitete Größen können an Pulsen mit einer Auflösung von 12,5 ns in Echtzeit dargestellt werden. Dabei erlaubt die Option die Analyse von periodischen Pulsen sowie Einzelpulsen. Besonderer Vorteil des neuen Verfahrens ist der einfache Messaufbau, der die sekundenschnelle Einstellung von Messungen erlaubt.
Ob in Mobilfunk- oder Radarsystemen: Im realen Betrieb haben es Verstärker und Antennensysteme häufig mit gepulsten Signalen zu tun. Um Überhitzungen zu vermeiden, besteht auch bei On-Wafer-Messungen der Bedarf nach vrnusuqzc Mazdmezp. Iul daz Uikkvv V&P PZT-Q2 wxmihsgadm Trkfr & Mlqdozc kdj onrwaoqjc Wuwzwycxx eq qcl Vzrv-Fyf-Nglseymqlvfuktvkqftn-Rvtptqv T&T JDE rti nkcylq qzmit afrg uipagzqs gbj rvbylqqtchhlcv Louopc. Ssa Qeemzse lko bdcbwgggy Fqjbvgs pnxt scztu vpnruxigarko Hiyscgwxayxhjsaaayh jengjxulebua.
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