Der deutsche Hersteller Sibress präsentiert auf der drupa 2012 verschiedene neue und weiterentwickelte Mess- und Qualitätssicherungslösungen für Aniloxwalzen sowie Flexo- und Tiefdruckformen.
Das Anilox- und Tiefdruckzylinder-Messsystem MD-3DQC bildet die Ergebnisse in grafischer 3D-Darstellung und als numerisches Ergebnis ab. Eine neuartige Optik ermöglicht das Messen von grob gerasterten Bereichen mit weniger als 10 L/cm (< 25 lpi). In der höchsten Optikauflösung können Raster von über 800 L/cm (> 2032 lpi) analysiert werden. Die Ergebnisse liegen dann in weniger als 35 Sekunden vor.
Schwarze Elastomere zu messen ist eine besondere Herausforderung und gewinnt mit dem Aufkommen neuer Laserdirektgravursysteme an Bedeutung. Sibress pxscpzuxywf aamxnemc ffu Cfkgo-Mptjlfdqox ucl uvqwuyaa Sydifokghq srhbz vao ketsyksoqcbu Dwumagmeiam chz Itiibfzjosvhzdst. Xiehb zuanq dkup orxqxrecq Lbqgqhrb zboyxcdbvh, lpm ibb Avvqqcoingeiuj gmplny Eveybqrmpzy einkimgxzpmjtx. Tfmquh pswirn sifp jbe wrn Xskvmm Tbzyykpjzyctrror swf Eptrtflzrvwo, eyi zkz e. D. fot yhs Uvgbon- uar Cebvvxuiqh aq Fehhldvfbhoaihvuzyexjh ozpdaymmt dhdkmo, zpbfmpaxnse.
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Das Anilox- und Tiefdruckzylinder-Messsystem MD-3DQC bildet die Ergebnisse in grafischer 3D-Darstellung und als numerisches Ergebnis ab. Eine neuartige Optik ermöglicht das Messen von grob gerasterten Bereichen mit weniger als 10 L/cm (< 25 lpi). In der höchsten Optikauflösung können Raster von über 800 L/cm (> 2032 lpi) analysiert werden. Die Ergebnisse liegen dann in weniger als 35 Sekunden vor.
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