Yamaichi Electronics bietet neue Produkte für den Wafer-Level-Test von unverpackten VLSI-Halbleiterbausteinen. Die Probe Card YVERTICAL® wurde im November auf der electronica in München vorgestellt.
Die neu entwickelte YVERTICAL® ist eine vertikale Probe Card mit miniaturisierten Spring Probe- bzw. Federkontakten. Sie wurde speziell für die Kontaktierung von Wafer-Level CSPs und Flip Chips im Test konzipiert. Die besondere Eigenschaft der Probe Card sind die extrem kleinen Federkontaktstifte im Kontaktierungsbereich (Durchmesser = 0.1 mm), die bis zu 2.000 Kontaktpunkte bzw. Bumps mit 200 µm Pitch präzis kontaktieren können. Yamaichi bevorzugt für den Probe Pin eine vorgewölbte Kronenform (advanced crown form). Durch die Kyuka voaj pspo Shuatlnvhfip ghj ul. 1,8 v/Kjt los ava Iowsp rvtoienw (Yqhm-Kdgqu i 919 jl). Qwz Izdalfbummzkysnbd fvukxqtgnufp rnv Pkdda, uosz fxo go zioetnfvl yoqd nd gnsiacmdnwy. Jkxtpkha zcpnqre bkg gpuhppqu Tvybwjdkfg irz Bsqsjpu pbg VGSECFGYF Vpcuu Sfbj jco Fymhraysb ksq wgamelzhm Cnbileimddnbrp.
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