CMOS Bild-Sensoren finden ihren Einsatz sowohl im Endverbraucher- als auch im Profibereich. Und auf Dauer werden CMOS Sensoren in der Anwendung immer gefragter. Das heißt, immer mehr Ingenieure werden mit dieser Entwicklung konfrontiert werden.
Diese Schulung ist dafür konzipiert, offene Fragen im Bereich CMOS Sensortechnik und deren Vor- und Nachteile zu diskutieren. Das zweitägige Training wird von dem Bildverarbeitungs-Experten Dr. Albert Theuwissen in Englisch gehalten. Nach einer kurzen Einleitung zu dem Thema konzentriert sich der Kurs auf die Einsetzbarkeit von CMOS Sensoren, als auch auf die Erläuterung der Pixelstruktur. Hauptfrage ist, was mit diesen Pixeln machbar ist und wo die Grenzen dieser Machbarkeit liegen?
Außerdem werden die generellen Charakteristika der Bildsensoren besprochen, wie Dunkelstrom, Anti-Blooming, Globalshutter, Rolling-shutter, Störereignisse und zeitlichen Rauscharten. Zum Schluss werden anhand eines praktischen Beispiels die Spezifikationen analysiert. Um die Schulung so interaktiv wie möglich zu gestalten, können die Teilnehmer auch gerne ihre eigenen Sensor-Spezifikationen mitbringen und in der Gruppe diskutieren.
Dr. Albert Theuwissen ist Autor des Buchs "Solid-State Imaging with Charge-Coupled Devices", die maßgebliche Lektüre im Bereich Solid-State Imaging. In März 2001 bekam er die Part-time Professur an der Delft Universtät für Technologie in den Niederlanden übertragen, wo er hauptsächlich PhD Studenten bei den wissenschaftlichen Arbeiten zu CMOS Sensoren unterstützte. In April 2002 wurde Dr. Theuwissen CTO der DALSA Corp., um dann sein Aufgabengebiet als Chief Scientist zu erweitern. Im September 2007 verließ er die DALSA Corp. und gründete die Harvest Imaging, die Schulungen, Coachings und Unterrichte im Solid-State Imaging Bereich anbietet. In 2008 erhielt Dr. Theuwissen die SMPTE (Society for Motion Pictures and Television Engineers) Fuij Goldmedaille für seinen einzigartigen Beitrag zur Forschung, Entwicklung und Fortbildung im Bereich Solid-State Bildverarbeitung.
Schulungsziele
- Überblick über Möglichkeiten, Grenzen und Optimierung von CMOS Sensoren
- Darstellung von Charakteristika der Bildsensoren, wie Dunkelstrom, Anti-Blooming, Global-shutter, Rolling-shutter, Störereignisse und zeitlichen Rauscharten
- Praktische Beispiel der Sensor-Spezifikationen und Lösungsstrategien für die Praxis
Zielgruppe
Techniker, Facharbeiter und Ingenieure, die CMOS Sensoren nutzen und mehr Informationen benötigen, um systematisch und zielgerichtet bei Einsatzbereich, Fehlersuche und Optimierung vorzugehen.
Kosten
1390,00 EUR (zzgl. MwSt.) pro Person, inkl. Tagungsgetränke, Mittagessen und Schulungsunterlagen.
Termin und Ort
09.-10. Februar 2011
FRAMOS Office Pullach: Zugspitzstr. 5C, 82049 Pullach b. München
Wir bitten Sie, sich bei Interesse so schnell wie möglich, spätestens aber bis Donnerstag, den 20. Januar 2011 verbindlich für das Seminar anzumelden.
Diese Schulung ist dafür konzipiert, offene Fragen im Bereich CMOS Sensortechnik und deren Vor- und Nachteile zu diskutieren. Das zweitägige Training wird von dem Bildverarbeitungs-Experten Dr. Albert Theuwissen in Englisch gehalten. Nach einer kurzen Einleitung zu dem Thema konzentriert sich der Kurs auf die Einsetzbarkeit von CMOS Sensoren, als auch auf die Erläuterung der Pixelstruktur. Hauptfrage ist, was mit diesen Pixeln machbar ist und wo die Grenzen dieser Machbarkeit liegen?
Außerdem werden die generellen Charakteristika der Bildsensoren besprochen, wie Dunkelstrom, Anti-Blooming, Globalshutter, Rolling-shutter, Störereignisse und zeitlichen Rauscharten. Zum Schluss werden anhand eines praktischen Beispiels die Spezifikationen analysiert. Um die Schulung so interaktiv wie möglich zu gestalten, können die Teilnehmer auch gerne ihre eigenen Sensor-Spezifikationen mitbringen und in der Gruppe diskutieren.
Dr. Albert Theuwissen ist Autor des Buchs "Solid-State Imaging with Charge-Coupled Devices", die maßgebliche Lektüre im Bereich Solid-State Imaging. In März 2001 bekam er die Part-time Professur an der Delft Universtät für Technologie in den Niederlanden übertragen, wo er hauptsächlich PhD Studenten bei den wissenschaftlichen Arbeiten zu CMOS Sensoren unterstützte. In April 2002 wurde Dr. Theuwissen CTO der DALSA Corp., um dann sein Aufgabengebiet als Chief Scientist zu erweitern. Im September 2007 verließ er die DALSA Corp. und gründete die Harvest Imaging, die Schulungen, Coachings und Unterrichte im Solid-State Imaging Bereich anbietet. In 2008 erhielt Dr. Theuwissen die SMPTE (Society for Motion Pictures and Television Engineers) Fuij Goldmedaille für seinen einzigartigen Beitrag zur Forschung, Entwicklung und Fortbildung im Bereich Solid-State Bildverarbeitung.
Schulungsziele
- Überblick über Möglichkeiten, Grenzen und Optimierung von CMOS Sensoren
- Darstellung von Charakteristika der Bildsensoren, wie Dunkelstrom, Anti-Blooming, Global-shutter, Rolling-shutter, Störereignisse und zeitlichen Rauscharten
- Praktische Beispiel der Sensor-Spezifikationen und Lösungsstrategien für die Praxis
Zielgruppe
Techniker, Facharbeiter und Ingenieure, die CMOS Sensoren nutzen und mehr Informationen benötigen, um systematisch und zielgerichtet bei Einsatzbereich, Fehlersuche und Optimierung vorzugehen.
Kosten
1390,00 EUR (zzgl. MwSt.) pro Person, inkl. Tagungsgetränke, Mittagessen und Schulungsunterlagen.
Termin und Ort
09.-10. Februar 2011
FRAMOS Office Pullach: Zugspitzstr. 5C, 82049 Pullach b. München
Wir bitten Sie, sich bei Interesse so schnell wie möglich, spätestens aber bis Donnerstag, den 20. Januar 2011 verbindlich für das Seminar anzumelden.
