Die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) und die Fraunhofer-Gesellschaft fördern gemeinsam sieben Projekte zum Erkenntnistransfer in die Wirtschaft. Die neuen Projekte, bei denen Hochschulen, Fraunhofer-Institute und Unternehmen miteinander kooperieren, werden in den kommenden drei Jahren mit insgesamt 6 Millionen Euro unterstützt. Das Fraunhofer ITWM ist beteiligt an einem Vorhaben aus dem Bereich Terahertz-Technik.
»Terahertz-Messsystem auf Basis frequenzselektiver Detektorchips für den Einsatz als inlinefähige industrielle Prüftechnik« lautet der Projekttitel. Die Leitung liegt beim Physikalischen Institut der Goethe-Universität Frankfurt, auf Seite des Fraunhofer ITWM beteiligt sind Dr. Fabian Friederich und Dr. Maris Bauer aus der Abteilung Materialcharakterisierung und -prüfung. Anwendungspartner ist die TOPTICA Photonics AG in Gräfelfing, ein Hersteller von Präzisionslasern.
Spektrale Fingerabdrücke identifizieren
Ziel des gemeinsamen Forschungsvorhabens mit dem Kurztitel »TeraSpect« ist die Entwicklung eines Terahertz-Spektroskopiesystems auf Basis frequenzselektiver Detektorchips für den Einsatz als inlinefähige industrielle Prüftechnik. Dabei werden zwei erfolgreiche Techniken der Terahertz-Messtechnik zu einem neuen Messprinzip kombiniert.
Vorarbeiten der Universität Frankfurt zeigen, dass Transistoren aus Standardprozessen der Halbleiterindustrie über einen breiten Frequenzbereich als hochsensitive Terahertz-Detektoren verwendet werden können. Wird eine Reihe dieser Detektoren gezielt für mehrere Einzelfrequenzen optimiert – man spricht dann von resonanten Detektoren – so lassen sie sich mit einer breitbandigen Terahertz-Strahlungsquelle kombinieren, um »spektrale Fingerabdrücke« zu vermessen und zu identifizieren.
»Darunter versteht man eindeutige Absorptionslinien, die beispielsweise für Echtheitsprüfungen in der Warenkontrolle eingesetzt werden können«, erläutert Maris Bauer, der sich auch während seiner Promotion mit der Technologie befasste. Die im Forschungsprojekt verwendete Terahertz-Strahlungsquelle entwickelte der Industriepartner TOPTICA Photonics.
»Terahertz-Messsystem auf Basis frequenzselektiver Detektorchips für den Einsatz als inlinefähige industrielle Prüftechnik« lautet der Projekttitel. Die Leitung liegt beim Physikalischen Institut der Goethe-Universität Frankfurt, auf Seite des Fraunhofer ITWM beteiligt sind Dr. Fabian Friederich und Dr. Maris Bauer aus der Abteilung Materialcharakterisierung und -prüfung. Anwendungspartner ist die TOPTICA Photonics AG in Gräfelfing, ein Hersteller von Präzisionslasern.
Spektrale Fingerabdrücke identifizieren
Ziel des gemeinsamen Forschungsvorhabens mit dem Kurztitel »TeraSpect« ist die Entwicklung eines Terahertz-Spektroskopiesystems auf Basis frequenzselektiver Detektorchips für den Einsatz als inlinefähige industrielle Prüftechnik. Dabei werden zwei erfolgreiche Techniken der Terahertz-Messtechnik zu einem neuen Messprinzip kombiniert.
Vorarbeiten der Universität Frankfurt zeigen, dass Transistoren aus Standardprozessen der Halbleiterindustrie über einen breiten Frequenzbereich als hochsensitive Terahertz-Detektoren verwendet werden können. Wird eine Reihe dieser Detektoren gezielt für mehrere Einzelfrequenzen optimiert – man spricht dann von resonanten Detektoren – so lassen sie sich mit einer breitbandigen Terahertz-Strahlungsquelle kombinieren, um »spektrale Fingerabdrücke« zu vermessen und zu identifizieren.
»Darunter versteht man eindeutige Absorptionslinien, die beispielsweise für Echtheitsprüfungen in der Warenkontrolle eingesetzt werden können«, erläutert Maris Bauer, der sich auch während seiner Promotion mit der Technologie befasste. Die im Forschungsprojekt verwendete Terahertz-Strahlungsquelle entwickelte der Industriepartner TOPTICA Photonics.
