In der Elektronikbranche steht diese provokante Frage immer häufiger zur Diskussion. Wohin geht der Trend?! ktuell steht lediglich der wirtschaftliche Aspekt im Vordergrund -Kostensenkung um jeden Preis. Darunter fällt auch der Bereich Test. Macht es wirklich Sinn auf den Test, der immer komplexeren elektronischen Baugruppen, zu verzichten und QUALITÄT als gegeben anzunehmen, oder sollte man bestehende Testabläufe hinterfragen, um durch andere Prüfstrategien Kosten zu senken und die Qualität zu steigern?
Betrachtet man die Anforderungen der heutigen Elektronik Industrie, handelt es sich um komplexe Produkte mit steigender Funktionalität und Bestückungsdichte. Der Einsatz von komplexen Bauteilen, wie Ball Grid Arrays, Chip Scale Packages und anderen dichten IC Gehäusen minimieren den Zugriff für den Test und der direkten Programmierung auf der Baugruppe. Der Boundary-Scan Standard IEEE 1149.1 bietet entsprechende Möglichkeiten diese Herausforderung zu meistern.
JTAG Technologies (www.jtag.com) der Pionier und führenden Anbieter von Boundary-Scan Tools bietet mit seiner Entwicklungssoftware ProVision kostengünstige, praktische und schnell zu implementierende Lösungen im Bereich Boundary-Scan, welche unmittelbare Vorteile liefern und spürbare Kosteneinsparungen ermöglichen. Die JTAG Entwicklungstools begleiten Kunden während des gesamten Produktzyklus von der Entwicklung, über das Prototyping und der Produktion bis hin zum Kundendienst.
Die unter JTAG ProVision erstellten Boundary-Scan Tests und Programmieralgorithmen lassen sich problemlos in bestehende Produktionssysteme integrieren. Hierzu stehen eine breite Palette von Integrationspakete für Funktionstester (Labview, Teststand, VB...), ICT Testsystemen, Flying Prober oder Inline-Anlagen zur Verfügung.
Gemeinsam mit der Firma Digitaltest GmbH (www.digitaltest.net), einem der führenden Hersteller von FKT, ICT und Flying Probe Test Systemen, steht JTAG Technologies mit Fachvorträgen sowie Demos zur Verfügung. Interessenten nutzen den Besuch auf der SMT 2009 in Nürnberg zu einem kleinen Abstecher ins Arvena Messe Hotel und erfahren mehr über eine wirtschaftliche und effektive Teststrategie
Kostenloses Seminar/Ausstellung
Thema: "Müssen Sie überhaupt Testen?! Wenn ja, dann aber wirtschaftlich!"
Termin: Mittwoch den 06.05.2009
Uhrzeit: 9:00 - 17:00 Uhr
Vorträge: "Müssen Sie elektronische Baugruppen überhaupt testen ..."
10:00 - 11:00 Uhr
13:00 - 14:00 Uhr
15:30 - 16:30 Uhr
Zwischen den Vorträgen steht Ihnen das JTAG Fachpersonal für Fragen und Demos zur Verfügung.
Ort: Arvena Messe Hotel
Berthold-Brecht-Str. 2
90471 Nürnberg
(direkt gegenüber der Nürnberger Messe/Frankenhalle)
Anmeldungen per e-mail unter Germany@jtag.com oder unter 0971/6991064.
Betrachtet man die Anforderungen der heutigen Elektronik Industrie, handelt es sich um komplexe Produkte mit steigender Funktionalität und Bestückungsdichte. Der Einsatz von komplexen Bauteilen, wie Ball Grid Arrays, Chip Scale Packages und anderen dichten IC Gehäusen minimieren den Zugriff für den Test und der direkten Programmierung auf der Baugruppe. Der Boundary-Scan Standard IEEE 1149.1 bietet entsprechende Möglichkeiten diese Herausforderung zu meistern.
JTAG Technologies (www.jtag.com) der Pionier und führenden Anbieter von Boundary-Scan Tools bietet mit seiner Entwicklungssoftware ProVision kostengünstige, praktische und schnell zu implementierende Lösungen im Bereich Boundary-Scan, welche unmittelbare Vorteile liefern und spürbare Kosteneinsparungen ermöglichen. Die JTAG Entwicklungstools begleiten Kunden während des gesamten Produktzyklus von der Entwicklung, über das Prototyping und der Produktion bis hin zum Kundendienst.
Die unter JTAG ProVision erstellten Boundary-Scan Tests und Programmieralgorithmen lassen sich problemlos in bestehende Produktionssysteme integrieren. Hierzu stehen eine breite Palette von Integrationspakete für Funktionstester (Labview, Teststand, VB...), ICT Testsystemen, Flying Prober oder Inline-Anlagen zur Verfügung.
Gemeinsam mit der Firma Digitaltest GmbH (www.digitaltest.net), einem der führenden Hersteller von FKT, ICT und Flying Probe Test Systemen, steht JTAG Technologies mit Fachvorträgen sowie Demos zur Verfügung. Interessenten nutzen den Besuch auf der SMT 2009 in Nürnberg zu einem kleinen Abstecher ins Arvena Messe Hotel und erfahren mehr über eine wirtschaftliche und effektive Teststrategie
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Vorträge: "Müssen Sie elektronische Baugruppen überhaupt testen ..."
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13:00 - 14:00 Uhr
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Zwischen den Vorträgen steht Ihnen das JTAG Fachpersonal für Fragen und Demos zur Verfügung.
Ort: Arvena Messe Hotel
Berthold-Brecht-Str. 2
90471 Nürnberg
(direkt gegenüber der Nürnberger Messe/Frankenhalle)
Anmeldungen per e-mail unter Germany@jtag.com oder unter 0971/6991064.
