Höhenmessung von Wafer-Bumps
Computerchips werden in großer Stückzahl auf einem Wafer hergestellt. Auf den Chips befinden sich unzählige kleine, kuge…
Computerchips werden in großer Stückzahl auf einem Wafer hergestellt. Auf den Chips befinden sich unzählige kleine, kuge…
Der neue konfokal-chromatische Sensor confocalDT IFS2405-6 wird für präzise Weg- und Dickenmessungen auf diffusen, spieg…
Konfokal-chromatische Sensoren von Micro-Epsilon ermöglichen die hochgenaue Inspektion feinster Oberflächenstrukturen.…
Ein neues Modell mit größerem Arbeitsabstand erweitert die Reihe der konfokalen Sensoren der Serie confocalDT IFS2405, d…